¿Cómo detectar defectos superficiales en alambres finos?

Cuando pensamos en medir un alambre o cable, lo más frecuente es que pensemos en medir su geometría, su rendimiento eléctrico o su aislamiento eléctrico. Sin embargo, su aspecto exterior también es de gran importancia por motivos técnicos o estéticos, como color, rugosidad, uniformidad, grietas; es decir, su aspecto superficial. Los fabricantes de alambres finos están particularmente interesados ​​en los defectos de revestimiento o revestimiento durante el proceso de fabricación.

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¿Cuál es la solución para los defectos de los cables?

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Numerosos dispositivos existentes en el mercado permiten comprobar los defectos geométricos de estos hilos/cables. Sin embargo, cuando se trata de análisis de superficies, las opciones son limitadas. Y cuando se trata de analizar y detectar defectos superficiales en línea, como falta de revestimiento o rayones, las soluciones son escasas o rápidamente limitadas.

Por supuesto, está descartado el uso de tecnologías que sean intrusivas o que puedan destruir el revestimiento depositado sobre el alambre/cable. Tampoco se deben utilizar técnicas que sólo puedan aplicarse a muestras fuera de línea. Para el análisis de posproducción ya existen muchas tecnologías y dispositivos de medición. Entre ellos se incluyen microscopios más o menos avanzados para la caracterización de superficies. Sin embargo, todavía es difícil realizar un análisis de toda la superficie y el resultado suele ser un análisis de la sección transversal o una vista 2D del objeto que se está analizando. Cuando se trata de mediciones en tiempo real durante el proceso de fabricación, no todas estas tecnologías se pueden aplicar. Si bien existen en el mercado cámaras de alta resolución para mediciones de triangulación de objetos iluminados que pasan frente a ellos, están limitadas para objetos mucho más grandes que un milímetro y tienen velocidades bastante lentas.

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Medición de la calidad de la superficie:

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La solución de CERSA MCILa necesidad de detectar defectos superficiales en línea en alambres muy finos durante el proceso de trefilado no es nueva. La solución de CERSA MCI podría proporcionarle los medios para realizar correcciones en el proceso casi en tiempo real y, por tanto, reducir los desperdicios y retrabajos, en lugar de detectarlos y compensarlos en la fase de postproducción.

CERSA ha recibido numerosas solicitudes, basadas en su experiencia, de una solución capaz de satisfacer esta necesidad de sus clientes, y lleva muchos años trabajando con sus ingenieros de I+D para dar con una solución realmente innovadora. De hecho, este dispositivo tenía que poder detectar continuamente defectos diminutos en toda la circunferencia de cables finos en líneas de alta velocidad. La respuesta de CERSA es SQM (Medición de Calidad Superficial). Después de haber sido sometido a numerosas pruebas de validación en las instalaciones de sus clientes, ahora está disponible en el mercado para la detección, análisis y caracterización de defectos superficiales de alambres finos.

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Una tecnología patentada que funciona como una cámara anular alrededor de la circunferencia del cable. Potente computación de señales en tiempo real, combinada con sensores rápidos, para analizar la superficie y reconstruir la imagen de la superficie, que luego se muestra en 2D. Dependiendo de los parámetros de detección establecidos por el técnico, se generan alarmas cuando los defectos se consideran averías. Luego, la imagen del defecto se puede mostrar en la pantalla del PC para su posterior análisis. El software CIM Prod también ofrece muchas funciones para el análisis estadístico de defectos.

Esta es una solución completa en beneficio de nuestros clientes para la mejora continua de su proceso de fabricación.