Inspección de superficies - medición fuera de línea: ¿Con qué propósito?
La demanda de una producción más rápida, dimensiones más reducidas, cero defectos y ahorro de material ha llevado a CERSA a desarrollar un nuevo medidor de alto rendimiento. Nuestro medidor SQM-F está diseñado para detectar defectos como arañazos, marcas de troquel, abolladuras, ampollas o partículas que pueden aparecer en la superficie de un cable, alambre o tubo durante el proceso de fabricación.
CERSA ha desarrollado un banco de pruebas para utilizar nuestro SQM-F fuera de línea. El objetivo es fijar muestras (de 15 µm a 2000 µm) rectas y centradas en el instrumento de medición. El desplazamiento lineal es manual y proporciona suficiente movimiento para caracterizar una muestra de superficie de aproximadamente 500 mm de longitud. Un software para PC ofrece herramientas para visualizar y analizar la imagen de la superficie del producto.
Aplicaciones:
- Control de calidad mediante la comprobación del aspecto superficial de la muestra de alambre
- Efecto de control indirecto del troquel mediante el análisis del alambre trefilado
- Inspección de entrada (control de calidad)
Tipos de cables:
- Alambres metálicos con superficies reflectantes (acero, cobre, oro, plata, iridio, titanio, etc.)
- Alambres esmaltados, alambres recubiertos
- Tubos médicos
Instrumentos que componen esta solución
WST - SQMF: banco de pruebas
Una herramienta diseñada específicamente para el SQM-F para manipular muestras fácilmente. CERSA desarrolló un banco de pruebas para usar nuestro SQM-F fuera de línea. El objetivo es fijar muestras (de 15 µm a 2000 µm) rectas y centradas en el instrumento de medición. El desplazamiento lineal es manual y proporciona suficiente movimiento para caracterizar una muestra de superficie de aproximadamente 500 mm de longitud
SQMF
El SQMF ofrece detección de defectos superficiales en tiempo real y de alta resolución en cables, alambres y tubos finos, con 128 píxeles por circunferencia y 200 000 imágenes por segundo. La imagen del defecto se muestra en el software CIM para su análisis y caracterización por parte del cliente. La resolución lineal mínima es de 18 µm. Cubre el 100 % de la superficie. Su alta velocidad de medición permite caracterizar continuamente defectos finos en tiempo real y visualizar sus imágenes en el ordenador. Un complemento ideal para dispositivos de medición de diámetro como los instrumentos LDS y DLN de CERSA.
Nuestra solución de software para la medición de muestras de superficie
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Software WIRE360
Software desarrollado por ingenieros de CERSA para proporcionar todas las herramientas necesarias para aprovechar la solución WIRE360.
Nuestro software ofrece funciones completas para visualizar la imagen de la superficie de la muestra, ajustar parámetros para detectar y mostrar defectos, y registrar los datos para obtener el máximo provecho del SQM-F fuera de línea.
Se incluye como parte del paquete de la solución WIRE360.
Nuestros accesorios especializados
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