En línea

Medición de defectos superficiales en línea

Ø 15 µm hasta 2000 µm
Imagen ilustrativa de la categoría medición de defectos superficiales en línea de alambres, cables y tubos.
Esta es la imagen principal del producto de medición de defectos superficiales en línea de Cersa MCI, un instrumento de medición para alambres, cables y tubos.

Medición de defectos de superficie en línea: ¿para qué sirve?

El SQM es un instrumento patentado realmente innovador, desarrollado a raiz de la insistente demanda de los clientes, para comprobar continuamente la calidad superficial de los alambres finos en línea. Funciona como una cámara anular, alrededor de toda la circunferencia del alambre. La imagen se analiza en tiempo real mediante potentes algoritmos para proporcionar toda la información necesaria sobre los defectos, como su longitud, anchura, superficie y localización. Pueden generarse alarmas según los requisitos del cliente. El SQM genera una imagen completa de la superficie del alambre para detectar cualquier defecto, alteración de la forma, arañazos o falta de chapado. ¡Un verdadero paso adelante en su proceso de calidad!

Tipo de alambres :

- Alambres finos/cables/tubos/tuberías
- Alambres metálicos con superficie reflectante (acero, cobre, oro, plata)
- Productos trefilados y ciertos productos extruidos
- Alambres esmaltados, alambres chapados y algunos alambres aislados

Ventajas :

- Aumenta su productividad
- Mejora la calidad final
- Ahorra en materia prima
- Reduce drásticamente los residuos

Instrumentos que componen esta solución.

Esta es la imagen principal del producto SQM-F de Cersa MCI, un instrumento detector de defectos superficiales en línea para alambres, cables y tubos.

SQM-F

El SQM-F ofrece detección de defectos superficiales de alta resolución y en tiempo real en alambres, cables y tubos finos con 128 píxeles por circunferencia y 200.000 imágenes por segundo. La imagen del defecto se muestra en el software CIM soft para el análisis y caracterización del cliente. La resolución lineal mínima es de 18 μm. Se cubre el 100% de la superficie . Su alta tasa de medición ayuda a caracterizar continuamente defectos finos en tiempo real y a mostrar sus imágenes en su PC. Un socio perfecto para dispositivos de medición de diámetros como los instrumentos LDS y LPS de CERSA.

Documentación técnica

Nuestra solución de software para la medición de defectos de superficie en línea

Software CIM PROD

Nuestro avanzado software para PC CIM PROD es una herramienta completa de gestión de calidad de producción para los operadores. Viene con nuestros instrumentos para su parametrización, para mostrar claramente las mediciones de producción así como los defectos detectados y generar parámetros en tiempo real y registrar todas las mediciones y eventos en una base de datos.

Conectado al SQM-F, nuestro software muestra imágenes y detalles de los defectos, dependiendo de las tolerancias y umbrales de ajuste.

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Nuestros accesorios dedicados

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Accesorio de autotest

Especialmente diseñado para dispositivo SQM-F. Permite realizar un autotest del correcto funcionamiento del SQM-F.

Documentación técnica
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Guía de poleas

Especialmente diseñado para dispositivo SQM-F. Ayuda a alinear correctamente el cable/tubo en el orificio SQM-F y evitar demasiadas vibraciones durante las operaciones de medición.

Documentación técnica
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Herramienta de guiado de cables

Especialmente diseñado para dispositivo SQM-F. Ayuda a centrar perfectamente el alambre/cable/tubo fino en el orificio del SQM-F.

Documentación técnica

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